Markak eta patenteak: Jabetza industrialari buruzko araudi nazionala, erkidegokoa eta nazioartekoa. (Iturria: Patente eta Marken Espainiako Bulegoa).
Metrologia: Orokorra, Administratiboa, Neurketa Unitateak, Kontrol Metrologikoa, Kontrol Metrologikoa Gauzatzea, Zuzentarauak. (Iturria: Espainiako Metrologia Zentroa. Industria, Merkataritza eta Turismo Ministerioa).
Hemen bildutako dokumentuek izaera informatiboa baino ez dute; soilik «Estatuko Aldizkari Ofiziala» edo indarrean dagoen araudiaren arabera emandako ziurtagiriek benetako izaera dute.